AXIO VertA.1 Gesamtansicht
Das AXIO VertA.1 ist ein sehr variables, inverses Lichtmikroskop

ZEISS - Mikroskop Axio Vert A1 - inverses Routinemikroskop für die Metallanalyse

AXIO VertA.1 Detailansicht
AXIO VertA.1 Detailansicht Objektivrevolver

Ein Mikroskop mit allen Kontrasten und ohne Kompromisse

AXIO VertA.1 mit grossem Bauteil
Eines der wesentlichen Vorteile des AXIO VertA.1 ist die Möglichkeit der Prüfung sehr großer Bauteile.

Das Axio Vert A1 ist ein kompaktes, inverses Mikroskop für brillante Einblicke

Es ist besonders geeignet für die Untersuchung großer, schwerer Bauteile mit allen Kontrastverfahren. Wegen der "nach oben offenen Bauweise" können auch große Proben (mit der zu bewertenden Oberfläche nach unten) auf das Mikrokop gelegt werden. Die Betrachtung der Prüfstelle erfolgt also von unten...

  • Wechseln Sie im Auflicht zwischen Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C-DIC, Fluoreszenz und Polarisationskontrast
  • Nutzen Sie Im Durchlicht Hellfeld, Polarisation und Phasenkontrast

Wählen Sie das beste Verfahren oder kombinieren Sie die Kontrasttypen und gewinnen Sie zusätzliche Erkenntnisse.

  • Der kodierte 5-fach Objektivrevolver erfasst einen Objektivwechsel automatisch
  • Mit Hilfe des Lichtmanagers passen Sie die Beleuchtungsintensität an

Quantifizieren Sie Ihr Gefüge effizient, beurteilen Sie die Eigenschaften und Qualität Ihrer Werkstoffe. Verstehen Sie Ihr Material und optimieren den Präparations- und Produktionsprozess.

... um die richtigen Maßnahmen zu ergreifen.

Axio VertA.1 Objektivrevolver

Axio Vert A1: einfacher, intelligenter, integrierter

Schnelle Aufnahmen mit jedem Objektiv

Kontrastverfahren für alle Details

Reproduzierbar Messen und Vergleichen

Für Ihre Anwendungen brauchen Sie unterschiedliche Objektive. Mit dem 5-fach-Objektivrevolver von AXIO Vert.A1 haben Sie
immer die passende Vergrößerung zur Hand.

Der Revolver ist kodiert, so dass AXIO Vert.A1
Ihr Objektiv automatisch erkennt. Sie sparen
Zeit und reduzieren Fehlerquellen.

Mit AXIO Vert.A1 nutzen Sie alle wichtigen Kontrastverfahren: Mit dem vierfach Reflektor-revolver bewegen Sie sich im Auflicht einfach
und schnell zwischen Hellfeld, Dunkelfeld,
DIC, C-DIC, Fluoreszenz und Polarisations-
kontrast, mit dem Sie anisotrope Materialien
wie Magnesium und Aluminium untersuchen.

Wechseln Sie in die Durchlichtbeleuchtung,
arbeiten Sie mit Hellfeld, Polarisation und Phasenkontrast.

Mit der Sehfeldzahl von 23 erfassen Sie einen Großteil Ihrer Probe auf einen Blick.

Die Vielzahl an Strich- und Gefügevergleichs-platten stattet Sie für 1. Messungen bestens aus.

Die Imaging-Software AXIO Vision von Carl Zeiss hält zusätzlich ein leistungsfähiges Spektrum an Modulen wie Korngrößen-, Phasenanalysen, Schichtdicken und Interaktives Messen für Ihre Untersuchungen bereit.

AXIO VertA.1 Eco-Modus
Der AXIO VertA.1 Eco-Modus schaltet die Beleuchtung bei Nichtbenutzung nach 15 Minuten ab
AXIO VertA.1 USB-Schnittstelle
Die AXIO VertA.1 USB-Schnittstelle arbeitet mit den Standard-Treibern des PC

Ihr Einblick in die Technik dahinter

Nutzen Sie den Eco-Modus für mehr Sicherheit

Die USB-Schnittstelle bringt Ihnen noch mehr Flexibilität

Im Eco-Modus schaltet sich AXIO Vert.A1 automatisch aus, wenn Sie länger als 15 Minuten nicht mikroskopieren. So verlängern Sie die Lebensdauer
Ihrer Lampen und sparen Energie. Bei Bedarf wechseln Sie von der Eco-Funktion einfach in den Dauerbetrieb.

Durch die direkte Verbindung Ihres Mikroskops mit Ihrem PC bearbeiten Sie Ihre Daten nach dem Erfassen nahtlos weiter. Ihr AXIO Vert.A1 verwendet die Standard-Protokolle Ihres Rechners – Sie brauchen keinen zusätzlichen Treiber.

Ein Mikroskop exakt auf Ihre Anwendungen zugeschnitten

 

 

Aufgabe

Das bietet Axio Vert.A1

Metallografie /
Materialografie

Analyse des Gefügeaufbaus (z.B. Phasen, Korngröße, Texturen, Ausscheidungen) und Gefügefehler (z.B. Einschlüsse, Poren, Lunker, Risse)

Auswertung und Dokumentation über AxioCam und AxioVision

 

Vermessung von Schichtdicken und geometrischer Eigenschaften
(z.B. Elektrodendicken)

Inverse Bauart für großen Probenraum
Sehfeldzahl 23 für großes Objektfeld

 

Analyse dunkler Proben mit geringen Reflexionsunterschieden

Einsatz von Immersionsobjektiven

 

Analyse anisotroper Materialien (z.B. Korngröße von Aluminium-Knetlegierungen nach Barker-Ätzung, Zink-Legierungen, Graphit, Titanlegierungen, Magnetwerkstoffe)

Polarisationskontrast

 

Schneller Wechsel zwischen Kontrastverfahren

Alle gängigen Kontrastverfahren verfügbar
Schneller Wechsel der P&C Reflektormodule über vierfach Reflektorrevolver

 

Nachweis Messmittelfähigkeit; Verhinderung von Skalierungsfehlern

Kodierter fünffach Objektivrevolver für automatische Erkennung der gewählten Vergrößerung Lichtmanager erkennt Beleuchtungsintensität

Polymere

Dünnschliff: Bewertung von Rezyklaten; Analyse von Pigmenten,
Lacken, Rußen, Fasern oder Füllstoffen im Durchlicht

Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung

 

Dünnschliff: Räumliche Verteilung von Polymergemischen

Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Phasenkontrast

 

Dünnschliff: Untersuchung von Kristallinitätsunterschieden, Gefügeänderungen, thermischen Schädigungen, Verarbeitungseinflüssen, Lunkern, Einschlüssen sowie materialinternen mechanischen Spannungen teilkristalliner Polymerwerkstoffe

Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Polarisationskontrast

 

Schneller Wechsel zwischen Kontrastverfahren

Alle typischen Kontrastverfahren sind verfügbar
Der schnelle Wechsel der P&C Reflektormodule erfolgt über einen 4-Fach-Reflektorrevolver

 

Nachweis Messmittelfähigkeit; Verhinderung von Skalierungsfehlern

Der 5-Fach-Objektivrevolver ist kodiert und erkennt automatisch die gewählte Vergrößerung / der Lichtmanager erkennt Beleuchtungsintensität

Baustoffe /
Betonografie

Dünnschliff: Gefügeanalyse, Identifikation
bestimmter Phasen und Minerale sowie kristalliner Strukturen

Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Polarisationskontrast

Asbestfasern

Dünnschliff: Identifikation von Asbestfasern

Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Polarisationskontrast

 

Dünnschliff: Mengen- und Größenverteilung von Asbestfasern

Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Phasenkontrast

Aluminiumlegierung im Hellfeld 100x
Alpha-Beta Phasen

Axio Vert.A1 in der Anwendung

Aluminiumlegierung, 100x, Hellfeld

Alpha-Beta Ti, 500x, Dunkelfeld

Mit dem Kontrastverfahren Auflicht/Hellfeld analysieren Sie die Gefügestrukturen geätzter Oberflächen. Sie erkennen Korngrenzen und ziehen Rückschlüsse auf Korngrößen, Phasen und Gefügedetails. Sie sehen Farben und Pigmente. Verunreinigungen und Gefügebestandteile, wie zum Beispiel Graphit im Gusseisen, erfassen Sie bereits vor dem Ätzen.

Mechanische Störungen der Oberfläche wie Bruchstellen, Poren und Einschlüsse kommen im Auflicht/Dunkelfeld genauso gut zum Vorschein wie Risse, Kratzer und Lunker. Sie beurteilen die Oberflächengüte bearbeiteter Werkstücke präzise und erkennen ebenso leicht Korngrenzen an geätzten Schliffen.

Reines Magnesium unter Polarisationskontrast
Aluminiumguss zirkularer differentieller Interferenzkontrast

Reines Magnesium, 100x, Polarisationskontrast

Aluminiumguss, 500x, Zirkularer Differentieller Interferenzkontrast

Nutzen Sie den Polarisationskontrast, um die Struktur anisotroper Materialien zu analysieren, wie zum Beispiel Magnesium, Aluminium, Bronze und Messing. Im polarisierten Licht zeigen Ihnen die einzelnen Körner des Kristallgitters ihre charakteristische Farbe.

Winzige strukturelle Höhendifferenzen erfassen Sie mit dem Differentiellen Interferenzkontrast (DIC) besonders sensibel. Höhenunterschiede in Form von natürlichen Differenzen oder durch die Präparation erzeugte Artefakte erhalten als reliefartige Struktur einen 3D-Effekt.

AXIO VertA.1 mit Monitor

Erleben Sie Qualität in jeder möglichen Komponente

1

Mikroskop

3

Beleuchtung

5

Software

-  Bauart: invers

-  Freiraum für die Untersuchung unterschiedlicher Prüfkörper und großer Bauteile

-  VIS-LED (LED)

-  HAL 100 (Halogen)

-  AxioVision LE: Bildaufnahme, Bildverarbeitung,
Bildanalyse und Dokumentation

 

Empfohlene AxioVision Module:

-  MosaiX (Bildaufnahme Scanningtisch)

-  Gusseisen-, Korngrößen-, Mehrphasenanalyse,
NMI, Particle Analyzer, Richtreihe, IntMess
(Bildanalyse)

2

Objektive

4

Kamera

Empfohlene Objektivklassen für beste Abbildungsqualität:

-  Auflicht:
EC-EPIPLAN
EC Epiplan-NEOFLUAR (auch als LD-Variante)

-  Durchlicht:
N-ACHROPLAN Pol
Plan-NEOFLUAR Pol

Empfohlene Kameras:

-  AxioCam ERc 5s

-  AxioCam ICc 1

-  AxioCam ICc 3

-  AxioCam MRc

-  AxioCam MRm

Systemübersicht Axio Vert.A1 (Zum Vergrößern Klicken)

Systemübersicht Axio_Vert.A1
Systemübersicht Axio Vert.A1 mit vielfältigen Komponenten

Gerätedimensionen (zum Vergrößern klicken)

 

Mikroskop

 

Stativ

Inverses, manuelles Auflichtmikroskop Optional: Träger für Durchlichtbeleuchtung

Abmessungen (B x T x H)

220 x 560 x 355 mm

Gewicht

10,3 kg

Okulare

Sehfeldzahl 23 (W-Pl 10x/23 br foc) Steckdurchmesser: 30 mm

Skizze Axio Vert.A1 Dimensionen

Technische Daten

 

Objektive

 

Objektivrevolver

Fünffach H-D, DIC (kodiert)

Beleuchtung

 

HAL 100 (Halogen)

Leistungsaufnahme des externen Netzteils:: 100 W, Regelbarkeit der Lichtquelle über externes Netzteil: stufenlos, 0 bis 12 V

VIS-LED (LED)

Max. Leistungsaufnahme: 20 W, Spannung: 0 bis 12 V DC, LED Risikogruppe 1 nach DIN EN 62471:2009, Wellenlänge 400 bis 700 nm, Peak bei 460 nm

Kontrastverfahren

 

Auflicht

Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C-DIC, Fluoreszenz, Polarisation

Durchlicht

Hellfeld, Polarisation, Phasenkontrast

Reflektorrevolver

Vierfach Reflektorrevolver für Push & Click Reflektormodule

Zubehör

 

Tuben

Binokularer Tubus 45°, 23

Binokularer Fototubus, links 45°, 23 (50:50)

Binokularer Fototubus, 45°, 23 (50:50)

Binokularer Ergotubus, 30° - 60°, 23

Zwischentuben

Foto-Zwischentubus, H=50 mm, links

Ergozwischenstück, H=25 mm für Einblickhöhenvergrößerung

Ergozwischenstück, H=50 mm für Einblickhöhenvergrößerung

Tische

Kreuztisch 40 x 40 mit diversen Tischlochblenden

Gleittisch einschließlich Tischeinlagen

Scanningtisch 130 x 85, mot P, CAN mit diversen Halterahmen

Betriebstechnische Daten

 

Einsatzbereich

Geschlossene Räume

Schutzklasse / Schutzart

I, IP 20

Elektrische Sicherheit

nach DIN EN 61010-1 (IEC 61010-1) unter Berücksichtigung von CSA und UL-Vorschriften

Überspannungskategorie

II

Funkentstörung

gemäß EN 55011 Klasse B

Störfestigkeit

gemäß DIN EN 61326-1

Netzspannung

100 bis 240 V AC ±10 %

Netzfrequenz

50 bis 60 Hz

Leistungsaufnahme internes Netzteil

max. 80 VA

Sicherungen nach IEC 127

 

Stativ Axio Vert.A1

T 3,15 A/H, 5x20 mm

Vorschaltgerät für HAL 100

Vorschaltgerät für HAL 100 T 5,0 A/H, 5x20 mm

Umweltbedingungen

 

Transport (in Verpackung)

Zulässige Umgebungstemperatur:

-40 bis +70 °C

Lagerung

Zulässige Umgebungstemperatur:

+5 bis +40 °C

 

Zulässige Luftfeuchtigkeit (ohne Kondensation)

max. 75 % bei 35 °C

Betrieb

Zulässige Umgebungstemperatur

+5 bis +35 °C

 

Zulässige relative Luftfeuchtigkeit (ohne Kondensation)

max. 75 % bei 35 °C

 

Höhe des Einsatzbereiches

max. 2000 m

 

Luftdruck

800 hPa bis 1060 hPa

 

Verschmutzungsgrad

2